扫描电子显微镜（SEM）测试

扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束扫描样品表面，获取高分辨率二次电子（SE）与背散射电子（BSE）图像，可直观呈现样品表面形貌、颗粒尺寸与分布状态。 本平台配备场发射扫描电镜，常规分辨率优于 1.0 nm@15 kV，可搭载 EDS 能谱仪完成微区元素定性、定量与元素分布（Mapping）分析。 测试完成后提供原始数据文件（TIFF 图像 + EDS 数据）与中文测试报告，报告包含测试参数、仪器信息与典型图像，可用于论文投稿与项目结题。

固体样品，尺寸不超过 10 mm × 10 mm × 5 mm；需干燥、无挥发性溶剂；粉体样品约 10 mg；含磁性样品请提前说明。

锂电池正极材料形貌与包覆层观察；催化剂颗粒尺寸统计；陶瓷断口形貌分析；高分子膜表面粗糙度观察。