X 射线衍射仪（XRD）物相分析

X 射线衍射（XRD）是晶体材料物相鉴定的标准手段，通过测量衍射角与衍射强度，确定样品的物相组成、晶格常数、结晶度与晶粒尺寸。 本平台配备青铜光源测角仪与高灵敏度探测器，扫描速度与步长可按样品结晶性定制；支持薄膜样品掠入射（GIXRD）测试，有效降低基底信号干扰。 交付内容包括原始衍射数据（.raw/.xy）、物相鉴定结果（PDF 卡片号匹配）与谱图标注文件，物相定量分析采用 Rietveld 精修或 K 值法。

粉体样品不少于 50 mg，需研磨至 200 目以下；块体样品测试面平整（不小于 10 mm × 10 mm）；薄膜样品请注明膜厚与基底信息。

钙钛矿薄膜物相鉴定；黏土矿物定量分析；纳米催化剂晶粒尺寸计算；陶瓷烧结产物相组成分析。