透射电子显微镜（TEM）测试

透射电子显微镜（TEM）通过电子束穿透超薄样品成像，是目前分辨率最高的显微分析手段之一，可实现原子级晶格观察。 本平台配备场发射透射电镜，点分辨率优于 0.24 nm，支持高分辨（HRTEM）、选区电子衍射（SAED）、STEM 模式下的 HAADF 成像与 EDS 元素面分布。 制样是 TEM 测试的关键环节：粉体样品采用超声分散滴铜网，块体样品需离子减薄或 FIB 制样（另行报价）。交付高清图像、衍射花样标注与测试报告。

粉体分散样品约 5 mg；块体样品需提前沟通制样方式；样品需对电子束稳定，不耐辐照的生物/高分子样品请先评估。

量子点尺寸与晶格测定；二维材料层数与缺陷观察；合金析出相鉴定；纳米线生长方向判定。