X 射线光电子能谱（XPS）测试

X 射线光电子能谱（XPS）通过测量光电子结合能识别样品表层 10 nm 内的元素组成与化学态，是表面化学分析的核心手段，可鉴别同一元素的不同价态（如 C-C / C-O / COOH、Cr³⁺ / Cr⁶⁺）。 本平台配备单色化 Al Kα 源与超高真空系统，支持点分析、微区成像（面扫）与 Ar 离子溅射深度剖析；荷电校正以 C 1s = 284.8 eV 为基准（可按样品指定）。 交付原始谱数据（.vms/.xy）、元素定量表（原子百分比）、化学态分峰拟合图与测试报告；深度剖析另附溅射时间-浓度剖面。

样品表面需保持洁净、无挥发物；片状样品厚度不超过 5 mm、尺寸不超过 10 mm × 10 mm；粉体样品约 20 mg（压片或导电胶固定）。

锂电池正极表面 SEI 膜成分分析；催化剂表面活性价态鉴定；高分子材料表面改性效果验证；半导体薄膜掺杂与氧化层分析。